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具有高性能集成电路多晶硅凝集熔消组件的互补金属氧化物半导体的工艺

摘要

一种互补金属氧化物半导体的工艺,该工艺包括创造具备作为晶体管栅极区域的第一厚度以及作为熔消组件区域的第二厚度的多晶硅层,该第一厚度较该第二厚度为大,其中,在该熔消组件区域中的大部分多晶硅将与金属层起反应,以在快速热退火工艺期间形成聚硅化物。

著录项

  • 公开/公告号CN100352009C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-11-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 先进微装置公司;

    申请/专利号CN02824656.X

  • 发明设计人 C·萨鲁瑟伊尔;P·A·菲舍尔;

    申请日2002-12-09

  • 分类号H01L21/283(20060101);H01L21/324(20060101);H01L21/335(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人戈泊;程伟

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-18

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/283 变更前: 变更后: 登记生效日:20100709 申请日:20021209

    专利申请权、专利权的转移

  • 2007-11-28

    授权

    授权

  • 2006-01-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-11-09

    公开

    公开

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