首页> 中国专利> 使用电化学蚀刻制造半导体器件的方法以及半导体器件

使用电化学蚀刻制造半导体器件的方法以及半导体器件

摘要

在第一导电类型的台面之间的半导体衬底中形成沟槽。沟槽从加工表面延伸直至底平面。第二、互补的导电类型的半导体层被形成在沟槽的侧壁上。至少在台面中,垂直于加工表面的垂直的杂质浓度分布在加工表面和底平面之间是非恒定的。在此之后,凹进的半导体层的厚度反映在台面中的垂直杂质浓度分布。

著录项

  • 公开/公告号CN104701178B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英飞凌科技奥地利有限公司;

    申请/专利号CN201410727194.5

  • 申请日2014-12-03

  • 分类号H01L21/336(20060101);H01L29/78(20060101);

  • 代理机构11256 北京市金杜律师事务所;

  • 代理人郑立柱

  • 地址 奥地利菲拉赫

  • 入库时间 2022-08-23 10:37:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-09

    授权

    授权

  • 2015-07-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/336 申请日:20141203

    实质审查的生效

  • 2015-07-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/336 申请日:20141203

    实质审查的生效

  • 2015-06-10

    公开

    公开

  • 2015-06-10

    公开

    公开

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