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公开/公告号CN1326244C
专利类型发明授权
公开/公告日2007-07-11
原文格式PDF
申请/专利权人 三星电子株式会社;
申请/专利号CN03108490.7
发明设计人 蔡洙杜;金柱亨;金桢雨;蔡熙顺;柳元壹;
申请日2003-04-14
分类号
代理机构北京市柳沈律师事务所;
代理人陶凤波
地址 韩国京畿道
入库时间 2022-08-23 08:59:47
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2007-07-11
授权
2004-06-30
实质审查的生效
2004-04-21
公开
机译: 非易失性硅/氧化物/氮化物/硅/氮化物/氧化物/硅存储器
机译:具有部分底部-富含硅的氮化物结构的氧化硅-氮化物-氧化物-硅-非易失性半导体存储器件的耐久性和数据保留性能的提高
机译:ZrO_2电荷陷阱层的氮氧化物-氮化物-氮化物-氧化物-硅非易失性存储器性能改进
机译:金属氮化物-氧化物-硅/氧化硅-氮化物-氧化物-硅结构中的声子耦合陷阱辅助电荷注入
机译:多晶硅-氮化物-氮化物-硅氧化物(SONOS)非易失性半导体存储器(NVSM)器件的表征
机译:硅和硅锗的超薄氧氮化物和氮化物的基础研究。
机译:由磷和硼掺杂的富硅氧化物和氮氧化物生长的硅纳米晶体中没有自由载流子
机译:具有调制隧道氧化物的柱状硅氧化物 - 氮化物 - 氧化硅闪存存储器单元
机译:多孔硅的氧化物和氧氮化物。