首页> 中国专利> 由于重晶格具有提高的ESD电阻的基于GAN的光电子器件及其制造方法

由于重晶格具有提高的ESD电阻的基于GAN的光电子器件及其制造方法

摘要

光电子器件(10)包括半导体层结构(100),所述半导体层结构具有作为有源层(140)的量子薄膜结构和p型掺杂层(160),所述p型掺杂层被布置在量子薄膜结构(140)之上。所述p型掺杂层(160)包括至少一个第一子层(161)和第二子层(162)。所述第二子层(162)具有高于第一子层(161)的掺杂度(323)。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-30

    授权

    授权

  • 2016-01-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L33/14 申请日:20140423

    实质审查的生效

  • 2015-12-09

    公开

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