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兼容CMOS制程的肖特基二极管的制造方法

摘要

本发明公开了一种兼容CMOS制程的肖特基二极管的制造方法,包括步骤:在硅衬底上形成N型硅外延层;采用光刻工艺选定形成肖特基二极管的金属极的区域;进行硅注入将金属极的形成区域的所述N型硅外延层非晶化;采用高温钛溅射工艺在金属极的形成区域形成一层钛层;对钛层进行第一次快速热退火处理并形成C‑49相位的钛硅合金;进行第二次快速热退火处理将钛硅合金转变为C‑54相位。本发明能降低器件的漏电流,提高器件的性能,能和CMOS制程良好兼容。

著录项

  • 公开/公告号CN104517834B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201410373561.6

  • 发明设计人 李亮;

    申请日2014-07-31

  • 分类号

  • 代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人郭四华

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2022-08-23 10:03:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-05

    授权

    授权

  • 2015-05-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/329 申请日:20140731

    实质审查的生效

  • 2015-05-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/329 申请日:20140731

    实质审查的生效

  • 2015-04-15

    公开

    公开

  • 2015-04-15

    公开

    公开

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