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一种MEMS器件的全硅化圆片级真空封装方法及封装器件

摘要

本发明涉及一种MEMS器件的全硅化圆片级真空封装方法及封装器件。采用平面电极引出方案,仅采用单个密封金属环即实现了器件的真空密封。采用平面电极的电信号引出方式有效的避免了全硅圆片封装工艺中常见的引入较大寄生电容的问题。本发明采用硅引线实现电互连,因此整体封装工艺具有更高的工艺兼容温度,从而可以在引线上制备更高密度更高质量的绝缘介质层,从而提高了器件的加工成品率和长期使用的可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN105293428B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航天控制仪器研究所;

    申请/专利号CN201510679727.1

  • 申请日2015-10-19

  • 分类号B81C1/00(20060101);B81C3/00(20060101);B81B7/00(20060101);B81B7/02(20060101);

  • 代理机构11009 中国航天科技专利中心;

  • 代理人褚鹏蛟

  • 地址 100854 北京市海淀区北京142信箱403分箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:55:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-04-19

    授权

    授权

  • 2016-03-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):B81C 1/00 申请日:20151019

    实质审查的生效

  • 2016-02-03

    公开

    公开

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