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集成无源器件晶圆级封装三维堆叠结构及制作方法

摘要

本发明涉及一种集成无源器件晶圆级封装三维堆叠结构及制作方法,包括晶圆级封装芯片和IPD芯片;所述IPD芯片包括玻璃基板,玻璃基板正面设置IPD器件和金属布线层;在所述玻璃基板的背面刻蚀形成TGV孔,在玻璃基板的背面和TGV孔内表面设置背面金属布线层,在背面金属布线层的焊盘上设置焊球,焊球与PCB板连接。所述三维堆叠结构的制作方法,包括以下步骤:(1)将晶圆级封装芯片和玻璃基板的IPD芯片进行堆叠;(2)在IPD芯片背面刻蚀TGV孔,在玻璃基板背面制作背面金属布线层;(3)将背面金属布线层刻蚀成绝缘的两部分;在两部分背面金属布线层上制作焊盘和焊球,通过焊球连接PCB板。本发明实现芯片和IPD器件之间的短距离互连,提升了电学质量。

著录项

  • 公开/公告号CN104009014B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201410173160.6

  • 发明设计人 何洪文;孙鹏;

    申请日2014-04-26

  • 分类号H01L23/488(20060101);H01L21/60(20060101);H01L25/16(20060101);

  • 代理机构32104 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人殷红梅

  • 地址 214135 江苏省无锡市新区太湖国际科技园菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋(微纳创新园)

  • 入库时间 2022-08-23 09:54:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-04-12

    授权

    授权

  • 2014-09-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/488 申请日:20140426

    实质审查的生效

  • 2014-08-27

    公开

    公开

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