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深沟槽多层光刻覆盖结构及其光刻覆盖方法

摘要

本发明提供一种深沟槽多层光刻覆盖结构及其光刻覆盖方法,解决使用光刻胶对深沟槽进行覆盖时,台阶覆盖不良以及显影不良的问题。本发明硅片经过沟槽刻蚀后,形成深度大于90um的沟槽,采用多次覆盖光刻胶对沟槽底部进行填充,确保在进行多次涂光刻胶后在沟槽和硅片平面结合的台阶处形成覆盖。并且由于第一次显影后留下的光刻胶在芯片表面的宽度宽于后面光刻留下的光刻胶宽度,将显影不良控制在第一层光刻胶的上面,保证在最后沟槽外侧的光刻胶图案不会产生缺失或残留。

著录项

  • 公开/公告号CN104465338B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 力特半导体(无锡)有限公司;

    申请/专利号CN201410827929.1

  • 发明设计人 吴宗杰;夏杰宇;

    申请日2014-12-26

  • 分类号

  • 代理机构无锡华源专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人林弘毅

  • 地址 214028 江苏省无锡市新区硕放工业园振发六路三号

  • 入库时间 2022-08-23 09:52:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-02-22

    授权

    授权

  • 2015-04-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/027 申请日:20141226

    实质审查的生效

  • 2015-03-25

    公开

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