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铜互连结构及铜互连结构的制作方法

摘要

本发明提供了一种铜互连结构及铜互连结构的制作方法。所述铜互连结构包括:半导体衬底;位于所述半导体衬底上的第一层间介质层;贯穿所述第一层间介质层的铜插塞;位于所述第一层间介质层上的第二层间介质层;贯穿所述第二层间介质层的铜互连线;所述第一层间介质层与所述铜互连线之间具有第一保护层,所述第二层间介质层与所述铜互连线之间具有第二保护层。本发明提供的铜互连结构中,铜互连线与第一层间介质层之间包括第一保护层,铜互连线与第二介质层之间包括第二保护层,从而避免了铜互连线与第一层间介质层和第二层间介质层直接接触,防止第一层间介质层和第二层间介质层被铜互连线压裂。

著录项

  • 公开/公告号CN104037160B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201310069905.X

  • 发明设计人 周鸣;

    申请日2013-03-05

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人骆苏华

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2022-08-23 09:52:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-02-08

    授权

    授权

  • 2014-10-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/532 申请日:20130305

    实质审查的生效

  • 2014-09-10

    公开

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