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用于降低源漏极间电阻的MOS场效应管及其制造方法

摘要

用于降低源极和漏极之间电阻的MOS场效应管,包括连续地形成在半导体衬底上的一个栅绝缘层和一个栅电极。深源/漏区形成在半导体衬底上部的栅电极两侧。源/漏延伸区形成在半导体衬底的上部,从深源/漏区向沟道区延伸至栅电极以下,比深源/漏区薄。在每个深源/漏区的表面上形成一个具有第一厚度的第一硅化物层部分。形成一个具有薄于第一硅化物层第一厚度的第二厚度的第二硅化物层部分,并从第一硅化物层部分延伸到每个源/漏延伸区的预定上部。

著录项

  • 公开/公告号CN1210810C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-07-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN01112356.7

  • 发明设计人 梁正焕;金永郁;

    申请日2001-04-03

  • 分类号H01L29/78;H01L21/336;

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人陶凤波

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2005-07-13

    授权

    授权

  • 2003-05-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-02-13

    公开

    公开

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