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形成具有多晶硅-硅化钛结构的栅极的方法

摘要

本发明提供了一种在栅极的再氧化工序中防止栅极异常氧化,同时,可以减小栅极电阻的多晶硅-硅化物结构的栅极形成方法。包括依次形成栅极氧化膜、多晶硅膜和硅化钛膜;在硅化钛膜上,按照栅极的形状,形成屏蔽绝缘膜。接着,对屏蔽绝缘膜的屏蔽层进行腐蚀,对硅化钛膜和多晶硅膜进行腐蚀,形成栅极。又利用再氧化工序,对基板进行氧化,在上述栅极的侧面和上述基板表面上,形成厚度均匀的氧化膜。

著录项

  • 公开/公告号CN1161822C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2004-08-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 现代电子产业株式会社;

    申请/专利号CN99124899.6

  • 发明设计人 张世亿;金泰均;吕寅硕;李相圭;

    申请日1999-11-26

  • 分类号H01L21/28;

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人陶凤波

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-01-07

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/28 授权公告日:20040811 终止日期:20131126 申请日:19991126

    专利权的终止

  • 2004-08-11

    授权

    授权

  • 2001-09-26

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2000-06-07

    公开

    公开

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