首页> 中国专利> 用于高压半导体功率器件的边缘终接的新型及改良型结构

用于高压半导体功率器件的边缘终接的新型及改良型结构

摘要

本发明提供了一种设置在半导体衬底中的半导体功率器件,并且具有一个有源元件区和一个边缘终接区,其中边缘终接区包括一个用场拥挤衰减填充物填充的宽沟槽,以及一个掩埋在半导体衬底顶面下方的掩埋场板,并且所述的掩埋场板还在场拥挤场的顶部上方横向延伸,以便使峰值电场横向远离有源元件区。在一个特定实施例中,场拥挤衰减填充物包括填充在宽沟槽中的氧化硅。

著录项

  • 公开/公告号CN102810556B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 万国半导体股份有限公司;

    申请/专利号CN201210172572.9

  • 申请日2012-05-30

  • 分类号H01L29/40(20060101);H01L29/78(20060101);H01L21/28(20060101);H01L21/762(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构31272 上海申新律师事务所;

  • 代理人竺路玲

  • 地址 美国加利福尼亚州桑尼维尔奥克米德大道475号

  • 入库时间 2022-08-23 09:24:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-12

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L29/40 登记生效日:20200525 变更前: 变更后: 申请日:20120530

    专利申请权、专利权的转移

  • 2015-04-01

    授权

    授权

  • 2015-04-01

    授权

    授权

  • 2013-01-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/40 申请日:20120530

    实质审查的生效

  • 2013-01-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/40 申请日:20120530

    实质审查的生效

  • 2012-12-05

    公开

    公开

  • 2012-12-05

    公开

    公开

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