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一种单晶金刚石同质拼接及界面低应力调控方法

摘要

本发明公开一种单晶金刚石同质拼接及界面低应力调控方法,在单晶金刚石籽晶连接界面采用金属催化法生成SiC纳米线,金属催化生长的SiC纳米线穿过金刚石晶体结构将单晶金刚石籽晶进行柔性连接;在单晶金刚石籽晶连接界面采用金属催化法生成SiC纳米线,以实现单晶金刚石微观柔性连接,这种异质连接界面稳定且能耐受金刚石生长的高温环境,且SiC纳米线在金刚石同质外延生长的全过程都保持了结构的完整性。通过SiC纳米线将单晶金刚石籽晶进行柔性连接,将有利于缓解单晶金刚石拼接界面同质外延生长时的应力累积效应,较大程度地减轻拼接界面的生长应力水平。

著录项

  • 公开/公告号CN115573042A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023-01-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆交通大学;

    申请/专利号CN202211263691.5

  • 申请日2022-10-16

  • 分类号C30B33/06;C23C14/18;C23C14/35;C23C14/58;C30B25/18;C30B29/36;

  • 代理机构北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人吕小琴

  • 地址 400074 重庆市南岸区学府大道66号

  • 入库时间 2023-06-19 18:13:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-06

    公开

    发明专利申请公布

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