用于轴上粒子检测和/或差分检测的粒子检测系统和方法

摘要

本文提供了用于检测和表征粒子的光学系统和方法。提供了系统和方法，其增加了光学粒子计数器的灵敏度，并允许在分析较大流体体积的同时检测较小的粒子。所描述的系统和方法允许对大体积的分析流体进行灵敏和准确的检测以及纳米级粒子的尺寸表征(例如，小于50nm，可选地小于20nm，可选地小于10nm)。