光学线扫描检测系统用于伪粒子分析

摘要

采用光学线扫描技术开发了用于伪粒子尺寸分析的仪器，此系统主要由四个模块组成，即原料输入模块，图象获取模块，图像处理模块和控制模块。这个系统的主要优点是全分析中没有粒子的重复与遗漏，伪粒子剥离不破坏粒子结构，可以获取伪粒子尺寸分布范围，主要尺寸，圆度及椭圆度和均一性等信息。这是一个功能强大的用于任何小粒子分析的仪器。