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粒子分析装置用光学系统及用此光学系统的粒子分析装置

摘要

本发明提供一种小型化的粒子分析装置用光学系统和使用此光学系统的粒子分析装置。本发明提供的粒子分析装置用光学系统包括:光源、用光源光照射通过流动室的粒子的照射光学单元、收集上述粒子发出光的光传感器、阻断光源射入光传感器的直接光的遮光件和将上述粒子发出光射入上述光传感器的聚光镜。上述照射光学单元将光源光聚焦于通过流动室的粒子形成第一焦点,将光源光聚焦于上述聚光镜和光传感器之间形成第二焦点。上述遮光件配置于上述第二焦点位置。

著录项

  • 公开/公告号CN101118208B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-02-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 希森美康株式会社;

    申请/专利号CN200710143454.4

  • 发明设计人 田端诚一郎;

    申请日2007-07-31

  • 分类号G01N15/00(20060101);G01N21/64(20060101);G01N33/49(20060101);

  • 代理机构11339 北京市安伦律师事务所;

  • 代理人刘良勇

  • 地址 日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-02-09

    授权

    授权

  • 2008-04-02

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-02-06

    公开

    公开

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