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一种EMI屏蔽的晶圆级芯片封装结构及封装方法

摘要

本发明公开一种EMI屏蔽的晶圆级芯片封装结构及封装方法,包括绝缘膜、芯片、再布线层和凸块下金属层;绝缘膜上表面与芯片的背面相贴;芯片正面上设有钝化层和多个压区,钝化层上方设有薄膜介质层,芯片正上方设有金属屏蔽层;再布线层的一端与芯片压区接触且这一端覆于薄膜介质层下方,再布线层的另一端与对应凸块下金属层底部键合;凸块下金属层的开孔位置位于对应芯片周围的绝缘膜封装区,凸块下金属层顶部设有焊球凸点。本发明通过再布线层将凸块下金属层开孔位置连接到非芯片上方的绝缘膜区域,制备凸块下金属层UBM的同时,在封装结构内形成电磁屏蔽结构,减小芯片受到封装结构内部器件以及外部器件的电磁波干扰的可能性。

著录项

  • 公开/公告号CN112802823A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江苏芯德半导体科技有限公司;

    申请/专利号CN202110339397.7

  • 发明设计人 张杰;

    申请日2021-03-30

  • 分类号H01L23/552(20060101);H01L23/482(20060101);H01L23/485(20060101);H01L21/60(20060101);

  • 代理机构32335 南京华恒专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人裴素艳

  • 地址 210032 江苏省南京市浦口区浦口经济开发区双峰路69号A-11

  • 入库时间 2023-06-19 10:58:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-08

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L23/552 专利申请号:2021103393977 申请公布日:20210514

    发明专利申请公布后的驳回

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