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公开/公告号CN112038359A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-04
原文格式PDF
申请/专利权人 上海华力集成电路制造有限公司;
申请/专利号CN202010780590.X
发明设计人 赵春山;康柏;张武志;曹亚民;周维;
申请日2020-08-06
分类号H01L27/146(20060101);
代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;
代理人焦天雷
地址 201203 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室
入库时间 2023-06-19 09:06:00
机译: 具有深和超浅沟槽隔离的集成电路及其制造方法
机译: 集成的深,浅沟槽隔离结构的制造方法
机译: 制造非常深的STI(浅沟槽隔离)的方法
机译:65nm以下低功耗互补金属氧化物半导体技术通过优化浅沟槽隔离工艺来改善浅沟槽隔离应力
机译:具有应力控制且高度可制造的浅沟槽隔离工艺的与布局无关的晶体管
机译:采用单个沟槽单元工艺以智能功率IC技术制造沟槽隔离和沟槽功率MOSFET
机译:闪存(NAND)微加工中的浅沟槽隔离工艺。
机译:使用标准BSI工艺制造的3.0μm三倍增益像素的90 dB以上场景内单曝光动态范围CMOS图像传感器
机译:开发用于在先进CmOs技术的晶体管之间填充隔离沟槽的创新工艺。
机译:开发用于制造碳化硅微系统的深蚀刻工艺。