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制造晶圆级封装的MEMS组件的方法和MEMS组件

摘要

一种制造方法,包括:提供半导体衬底,在半导体衬底的第一主表面区域上具有带有凹槽的布线层堆叠,其中在半导体衬底的第一主表面区域处,MEMS器件裸露地布置在布线层堆叠的凹槽中,并且其中在布线层堆叠的金属化区域处布置有突出的过孔元件;将在中间阶段中固化的b阶材料层施加到在布线层堆叠上,从而使在布线层堆叠中的凹槽被由b阶材料层覆盖,并且还使该垂直突出的过孔元件被加入到b阶材料层中;固化b阶材料层,以获得经固化的b阶材料层;使经固化的b阶材料层薄化,以裸露过孔元件的端表面区域;并且将RDL结构(RDL=再分布层)施加到经薄化和固化的b阶材料层上,以便经由过孔元件获得布线层堆叠与RDL结构之间的电连接。

著录项

  • 公开/公告号CN108862185A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英飞凌科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201810437158.3

  • 发明设计人 M·施泰尔特;C·盖斯勒;K·措加尔;

    申请日2018-05-09

  • 分类号

  • 代理机构北京市金杜律师事务所;

  • 代理人郑立柱

  • 地址 德国诺伊比贝尔格

  • 入库时间 2023-06-19 07:21:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):B81B7/02 申请日:20180509

    实质审查的生效

  • 2018-11-23

    公开

    公开

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