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公开/公告号CN107369704A
专利类型发明专利
公开/公告日2017-11-21
原文格式PDF
申请/专利权人 西安电子科技大学;
申请/专利号CN201710558126.4
发明设计人 马晓华;陈丽香;祝杰杰;杨凌;刘捷龙;
申请日2017-07-10
分类号H01L29/423(20060101);H01L21/335(20060101);H01L29/778(20060101);
代理机构61205 陕西电子工业专利中心;
代理人王品华;朱红星
地址 710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号
入库时间 2023-06-19 03:48:30
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-12-15
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/423 申请日:20170710
实质审查的生效
2017-11-21
公开
机译: 具有嵌入式栅电极的GaN基高电子迁移率晶体管(HEMT),该栅电极具有第一凹槽部分和第二凹槽部分以改善漏极击穿电压
机译: 具有布置在变形硅MOS器件空栅电介质上的栅电极的栅叠层
机译: 分层栅介质叠层,可降低栅介质泄漏
机译:光电化学氧化处理的具有氧化层/ Ta_2O_5 / Al_2O_3栅电介质叠层的AlGaN / GaN金属氧化物半导体高电子迁移率晶体管
机译:使用多层氟化栅叠层的6.5 V高阈值电压AlGaN / GaN功率金属-绝缘体-半导体高电子迁移率晶体管
机译:具有氧化层/ Ta2O5 / Al2O3栅介电叠层的光电化学氧化处理AlGaN / GaN金属氧化物半导体高电子迁移率晶体管
机译:含ALD氧化锆的最佳掺杂的哈菲娜栅介质的MOS晶体管栅叠层材料性能和可靠性特性的比较研究
机译:栅长短的栅凹氮化镓高电子迁移率晶体管。
机译:栅漏电流在AlGaN / GaN肖特基栅HFET和MISHFET中引起的陷阱
机译:具有铟 - 氧化铟锡栅电极的P-GaN / AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管的示范
机译:结合GaN衬底热边界电阻的氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEmT)器件的混合多栅模型。