基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法

摘要

基于扫描测试的多个SRAM的内建自测试方法，属集成电路设计技术领域。对多个待测SRAM测试，分为扫描模式和内建自测试模式。在扫描模式下将SRAM逻辑中的所有普通触发器替换成扫描触发器，并将扫描触发器连接起来组成扫描链。利用自动测试设备输出设计阶段生成的测试向量，观察芯片输出，观察结果是否正确。在内建自测试模式下，通过启动内建自测试，观察输出信号，判断是否存在错误。本发明无需添加过多逻辑电路，结合扫描测试和内建自测试方法的优点，尽可能大限度的优化系统资源，提高测试覆盖率，节约测试时间和测试成本，节省芯片面积。