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片上SRAM内建自测试的实现方法

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存储器内建自测试(MBIST)技术是目前芯片嵌入式存储器测试的最通用方法．本文介绍了基于自编RTL和基于SynopsysRambist EDA技术的两种片上SRAM BIST电路方法．

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来源
《第六届中国测试学术会议》|2010年|340-343|共4页
会议地点合肥
作者
马琪; 裘燕锋;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
片上SRAM; 内建自测试; 嵌入式存储器; 电路方法;
入库时间 2022-08-17 10:39:03

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