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一种选择多个单元的重新播种内建自测试方法

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摘要

随着集成电路技术的迅速发展,芯片的集成度越来越高,怎样对电路进行有效测试就显得越来越重要.其中内建自测试被认为是解决测试问题有效方法之一.文中提出了一种选择多个单元的重新播种BIST测试方法,实验结果表明该方法可以降低硬件开销.

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来源
《计算机技术与发展》 |2007年第1期|233-234238|共3页
作者
马俊;
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作者单位

安庆师范学院;

教育技术系;

安徽;

安庆;

246011;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
内建自测试; 重新播种; 线性反馈移位寄存器; 混合测试;

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