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公开/公告号CN101189730A
专利类型发明专利
公开/公告日2008-05-28
原文格式PDF
申请/专利权人 英特尔公司;
申请/专利号CN200580009823.X
发明设计人 N·林德尔特;S·M·切亚;
申请日2005-03-28
分类号H01L29/786(20060101);H01L21/336(20060101);
代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;
代理人杨凯;张志醒
地址 美国加利福尼亚州
入库时间 2023-12-17 20:11:07
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-04-20
授权
2008-07-23
实质审查的生效
2008-05-28
公开
机译: 具有应变增强的迁移率的体非平面晶体管及其制造方法
机译:短沟道晶体管的磁阻迁移率的综合研究:应变和非应变的绝缘体上硅场效应晶体管的应用
机译:具有双轴压缩应变的应变GaSb p沟道金属氧化物半导体场效应晶体管的迁移率增强
机译:通过局部冷凝技术制造的具有高Ge面沟道的高迁移率应变SiGe绝缘体上pMOSFET
机译:用于增强p沟道场效应晶体管中空穴迁移率的应变工程
机译:具有自洽价子带结构和高k绝缘体的应变锗和钒III p沟道反型层中的空穴迁移率。
机译:在玻璃基板上制造具有双层ITO / Al-Sn-Zn-O沟道结构的全透明高性能薄膜晶体管
机译:具有有效空穴迁移率的应变锗锡(GeSn)P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管
机译:在蓝宝石上的500 a薄膜硅中制造具有0.2微米栅极长度的n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管。 (重新公布新的可用性信息)