首页> 中国专利> 具有增强迁移率的应变沟道的非平面体晶体管及制造方法

具有增强迁移率的应变沟道的非平面体晶体管及制造方法

摘要

一种具有应变增强迁移率的三栅极体晶体管及其制造方法。本发明是一种具有应变增强迁移率的非平面晶体管及其制造方法。所述晶体管具有在半导体基片上形成的半导体主体,其中半导体主体具有侧向相对的侧壁上的顶面。在半导体主体的顶面和侧壁上形成半导体覆盖层。在半导体主体顶面上的半导体覆盖层上形成栅极绝缘层,并且在半导体主体的侧壁上的覆盖层上形成栅极绝缘层。在栅极绝缘层上及其周围形成具有一对侧向相对的侧壁的栅极电极。在栅极电极的相对的两侧,在半导体主体内形成一对源极/漏极区域。

著录项

  • 公开/公告号CN101189730A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英特尔公司;

    申请/专利号CN200580009823.X

  • 发明设计人 N·林德尔特;S·M·切亚;

    申请日2005-03-28

  • 分类号H01L29/786(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人杨凯;张志醒

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-12-17 20:11:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-04-20

    授权

    授权

  • 2008-07-23

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-05-28

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号