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用于基于全局优化的无掩模光刻光栅化技术的方法和系统

摘要

一种用于确定光刻系统中的空间光调制器(SLM)像素的状态的方法和系统,所述光刻系统被配置用于印刷所需图案。所述方法包括:确定与将要由光刻系统印刷的图案的理想掩模相关联的衍射级;以及然后对SLM像素的状态进行配置以匹配与所需图案有关的已确定衍射级。

著录项

  • 公开/公告号CN101111850A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-01-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASML控股股份有限公司;

    申请/专利号CN200680003428.5

  • 申请日2006-01-27

  • 分类号G06K9/00;G02F1/1335;G02F1/135;G21K5/00;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人齐晓寰

  • 地址 荷兰维德霍温

  • 入库时间 2023-12-17 19:41:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-04

    专利权的视为放弃 IPC(主分类):G02F1/1335 放弃生效日:20080123 申请日:20060127

    专利权的视为放弃

  • 2008-03-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-23

    公开

    公开

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