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沟道有热、电通道的SOI MOSFET器件制造工艺

摘要

本发明公开了属于微电子器件制造技术范围的一种沟道有热、电通道的SOI MOSFET器件制造工艺。这种工艺和体硅及SOI工艺完全兼容,只需在常规CMOS工艺基础上增加一块图形化注氧的掩膜版和在Si片上热生长或淀积注氧掩蔽层、用图形化注氧掩膜版光刻注氧掩蔽层、氧离子注入及高温退火形成掩埋SiO

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-08-19

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2006-10-11

    授权

    授权

  • 2004-12-08

    地址不明的通知 收件人:李光松 文件名称:第一次审查意见通知书 申请日:20030610

    地址不明的通知

  • 2004-01-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-11-19

    公开

    公开

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