用于功能安全应用的封装互连的处理器和芯片集连续性测试

摘要

本文描述的方法和装置涉及用于功能安全应用的封装互连的处理器和芯片集连续性测试。在实施例中，分压器逻辑电路分压参考电压。控制器逻辑电路比较来自分压器逻辑电路的节点的分压电压值和阈值电压值。分压器逻辑电路的第一端被耦合以用于接收参考电压，并且分压器逻辑电路的第二端耦合至非临界功能(NCTF)焊球。控制器逻辑电路响应于分压电压值和阈值电压值之间的失配生成错误信号。还公开并要求保护其他实施例。