用于微处理器功能测试的最小指令集测试法

摘要

本文介绍了一种比较简单而又具有较高故障覆盖率的微处理器测试方法－最小指令集测试法。它应用最小指令集的概念来测试微处理器的指令系统，对于最小指令集以内和以外的指令采用不同的测试方法，从而简化了指令系统的测试。此方法算法简单，易于实现，是一种较为可行的微处理器功能测试方法，已将其应用于TMS320C25的测试。