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公开/公告号CN110518067A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-11-29
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所;
申请/专利号CN201810491766.2
发明设计人 张晓东;张辉;张佩佩;郝荣晖;宋亮;于国浩;蔡勇;张宝顺;
申请日2018-05-21
分类号
代理机构南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人王锋
地址 215123 江苏省苏州市苏州工业园区独墅湖高教区若水路398号
入库时间 2024-02-19 16:11:28
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-12-24
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/778 申请日:20180521
实质审查的生效
2019-11-29
公开
机译: 制造功率晶体管装置的多层结构的方法,制造用于异质结场效应晶体管装置的多层结构的方法以及基于氮化物的异质结场效应晶体管装置
机译: 应变沟道异质结场效应晶体管的高位源极和漏极元件
机译:InGaAs / InP异质结沟道隧穿场效应晶体管,用于低于0.5 v电源电压的超低工作和待机功率应用
机译:自对准n沟道和p沟道伪非晶异质结场效应晶体管中的栅极电流
机译:具有异质沟道的GaAsSb / InGaAs异质结隧道场效应晶体管
机译:基于GaN的P沟道和N沟道异质结场效应晶体管的单片操作
机译:基于N沟道InGaAsP-InP的倒置通道技术器件(ICT)的设计,制造和表征,用于光电集成电路(OEIC):双异质结光电开关(DOES),异质结场效应晶体管(HFET),双极倒置沟道场-效应晶体管(BICFET)和双极型反向沟道光电晶体管(BICPT)。
机译:基于极化诱导的二维空穴气的P沟道InGaN / GaN异质结构金属氧化物半导体场效应晶体管
机译:GaN基n沟道和p沟道异质结场效应晶体管的阈值电压工程
机译:介质隔离结场效应晶体管和pNp晶体管的制作方法。