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使用光学邻近效应修正模型产生光掩模的方法

摘要

一种使用光学邻近效应修正模型产生光掩模的方法,包括提供测试光掩模,该测试光掩模具有特征四边形,依照尺寸与长宽比的变化而不同。对该特征四边形的每一个角落加入多种不同的衬线图案。使用具有衬线图案的每一个该测试光掩模,在晶片上形成多个测试图案。测量与统计分析该多个测试图案的至少一个几何参数,以决定出一特定衬线图案给每一个该测试光掩模的该角落。建立光学邻近效应修正模型,包括每一个该测试光掩模在该角落的该特定衬线图案。接收一数据库布局图案。使用光学邻近效应修正模型产生第一数据库布局图案。执行光学邻近效应修正流程,以对该第一数据库布局图案最佳化成第二数据库布局图案。根据第二数据库布局图案产生光掩模。

著录项

  • 公开/公告号CN109917615A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 联华电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201711318482.5

  • 发明设计人 蔡佳君;杜佳峰;

    申请日2017-12-12

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人陈小雯

  • 地址 中国台湾新竹市

  • 入库时间 2024-02-19 11:23:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F1/36 申请日:20171212

    实质审查的生效

  • 2019-06-21

    公开

    公开

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