Field-programmable gate arrays; Reliability; Thermal cycling tests; Thermal expansion; Chips(Electronics); Thermophysical properties; Performance tests; Electronic packaging; Earth orbital environments; Vacuum; Solders; Materials selection;
机译:塑料封装的电子封装可靠性的数值分析:底部填充树脂的粘弹性
机译:用于IC封装的液态底部填充材料的性能和可靠性
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机译:考虑芯片间相互作用(CPI)的未完成芯片间封装的焊点可靠性
机译:包装材料的热机械性能及其在电子包装可靠性评估中的应用。
机译:晶圆级底部填充对热循环测试过程中超薄芯片堆叠式3D-IC组件微凸点可靠性的影响
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机译:Xilinx倒装芯片CCGa封装失效分析物理:任务环境对Lp2底部填充和aTI盖层粘接材料性能的影响。