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Assesment of DRAM Reliability from Retention Time Measurements

机译：从保留时间测量中评估DRam可靠性

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It was attempted to assess the reliability of DRAMs at the package level.

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作者
Lieneweg, U.; Nguyen, D.; Blaes, B.;
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年度 1998
页码 1-20
总页数 20
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类工业技术;
关键词
MICROELECTRONICS; RANDOM ACCESS MEMORY; RELIABILITY; TIME MEASUREMENT; DRAM storage cell micron technology Microelectronics Reliability;

机译：微电子;随机存取存储器;可靠性;时间测量; DRam存储单元微米技术微电子可靠性;

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