Semiconductors (materials) ; Single crystals ; Wafers ; Pressure distribution ; Stresses ; Surface properties;
机译:半导体晶片抛光工艺对切丁芯片断裂力学的影响
机译:芯片对晶圆三维集成薄硅片中局部弯曲应力对互补金属氧化物半导体特性影响的研究
机译:晶圆背面研磨工艺对半导体芯片抗弯强度的影响
机译:用于低芯片产量和非均匀,芯片尺寸晶片的新型晶圆级堆叠方法,用于MEMS和3D SIP应用
机译:溅射法制备CZTS太阳能电池循环弯曲过程中测量ITO薄膜电阻变化的实验技术使用板级跌落试验研究晶圆级芯片规模封装的可靠性。
机译:用于无线供电的神经接口系统的薄膜柔性天线和硅CMOS整流器芯片的协同设计方法和晶圆级封装技术
机译:双晶片背研磨过程对半导体芯片弯曲强度的影响
机译:一种将半导体晶片分离成单个芯片的方法