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半导体芯片、半导体晶圆及半导体晶圆的制造方法

摘要

本发明涉及微电子、半导体制造方法技术领域,具体而言,涉及一种半导体芯片、半导体晶圆及半导体晶圆的制造方法。所述半导体芯片包括:基底、基于所述基底制作的器件、贯穿所述基底的通孔、填充于所述通孔并与所述器件接触的导电材料以及制作于所述基底与所述器件相对一侧的背面金属层,所述背面金属层与所述导电材料接触以通过所述导电材料与所述器件电性连接。本发明提供的半导体芯片、半导体晶圆及半导体晶圆的制造方法减小了器件的接地电阻,并改善了有通孔结构的器件在工作状态下的散热问题。

著录项

  • 公开/公告号CN107068611A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州能讯高能半导体有限公司;

    申请/专利号CN201611209475.7

  • 发明设计人 张乃千;潘盼;

    申请日2016-12-23

  • 分类号

  • 代理机构北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人栾波

  • 地址 215300 江苏省苏州市昆山市高新区晨丰路18号

  • 入库时间 2023-06-19 03:06:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-05

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/768 申请公布日:20170818 申请日:20161223

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2017-09-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/768 申请日:20161223

    实质审查的生效

  • 2017-08-18

    公开

    公开

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