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SEMICONDUCTOR WAFER, METHOD FOR SEPARATING THE SEMICONDUCTOR WAFER, SEMICONDUCTOR CHIP, AND SEMICONDUCTOR PACKAGE INCLUDING THE SEMICONDUCTOR CHIP

机译:半导体晶片,用于分离半导体晶片,半导体芯片和半导体封装的方法,包括半导体芯片

摘要

A semiconductor wafer includes a first chip region and a second chip region spaced apart from each other by a scribe lane region. The semiconductor wafer also includes a test pad disposed in the scribe lane region. The semiconductor wafer additionally includes a protective layer partially covering the first chip region, the second chip region, and the scribe lane region, wherein the protective layer covers a portion of the test pad adjacent to the first chip region and leaves a remaining portion of the first test pad exposed.
机译:半导体晶片包括第一芯片区域和由划线车道区域彼此间隔开的第二芯片区域。 半导体晶片还包括设置在划线车道区域中的测试垫。 半导体晶片另外包括部分地覆盖第一芯片区域,第二芯片区域和划线通道区域的保护层,其中保护层覆盖与第一芯片区域相邻的测试垫的一部分,并留下剩余部分 第一个测试垫暴露。

著录项

  • 公开/公告号US2022013418A1

    专利类型

  • 公开/公告日2022-01-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SK HYNIX INC.;

    申请/专利号US202017081796

  • 发明设计人 HYUN CHUL SEO;

    申请日2020-10-27

  • 分类号H01L21/66;H01L23/31;H01L25/065;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 23:20:23

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