Semiconductors ; Radiation damage ; Magnetic materials ; Semiconductor devices ; Silicon ; Photodiodes ; Photometers ; Photoelectric materials;
机译:MCz和标准及富氧外延硅器件的辐射损伤研究
机译:研究标准和富氧硅器件上900 MeV电子对辐射的损害
机译:紫外线辐射表面损伤对硅位置敏感光电探测器的影响
机译:对熊猫混合像素检测器外延硅装置的辐射损伤效应
机译:先进的基于硅和碳化硅的MOS器件的辐射诱导电荷陷阱研究。
机译:使用基于铟锡氧化物的硅和pn硅结的器件对基于大孔硅的光伏特性进行比较研究
机译:硅半导体器件中子辐射损伤模拟。
机译:硅半导体器件中子辐射损伤的模拟