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Latent Failures and Coverage in Fault-Tolerant Systems. A VLSI CMOS Circuit Design Technique to Aid Test Generation

机译：容错系统中的潜在故障和覆盖。一种用于辅助测试生成的VLsI CmOs电路设计技术

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Contents: Latent Failures and Coverage in Fault-Tolerant Systems; and A VLSI CMOS Circuit Design Technique to Aid Test Generation.

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作者
Amer, H. H.; McCluskey, E. J.;
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作者单位

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年度 1986
页码 p.1-12
总页数 12
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类工业技术;
关键词
Fault tolerant computing; Integrated circuits; Very large scale integration; Fault tolerance; CMOS;

机译：容错计算;集成电路;超大规模集成;容错; CmOs;

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