机译:电子通道对比成像表征与单晶和挤压系统有关的位错结构以及铜单晶中的疲劳裂纹
机译:电子通道对比成像表征与单晶和挤压系统有关的位错结构以及铜单晶中的疲劳裂纹
机译:旋转电子通道对比度成像分析疲劳铜单晶中位错结构
机译:取向为临界双滑的疲劳[017] Cu单晶中位错结构的SEM电子通道对比度成像
机译:电子通道对比成像检查疲劳铜中的位错亚结构
机译:单晶镍基高温合金的显微组织和疲劳裂纹扩展的相衬x射线成像。
机译:建模通过精确电子通道对比成像获得的位错对比以表征散装材料中的变形机制
机译:使用电子通道对比成像技术(ECCI)研究疲劳裂纹附近的位错结构。