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机译:Si(111)上的超薄SiO2层:制备,界面间隙态和钝化的影响
RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY; JUNCTION SOLAR-CELLS; PHOTOCURRENT MEASUREMENTS; PHOTOVOLTAGE MEASUREMENTS; SIO2/SI(111) INTERFACES; ELECTRONIC STATES; CARRIER LIFETIMES; SILICON; DEPENDENCE; DENSITY;
机译:Si(111)上的超薄SiO2层:制备,界面间隙态和钝化的影响
机译:软X射线光电子能谱法比较超薄SiO2 / Si(100)和SiO2 / Si(111)界面
机译:Ooct-OPV5 / SiO2 / Si(111)界面的光发射研究:SiO2中间层厚度的影响
机译:通过湿化学制备超薄SiOx钝化层来降低晶体硅太阳能电池基板上的界面缺陷密度
机译:在铂(111)上清晰定义的超薄钯膜:电化学制备和界面化学。
机译:原位X射线衍射观察到Si(111)上Gd2O3超薄层的延迟结晶
机译:应变对凝结生长具有纳米GexSi1-x层的SiO2 / GexSi1-x / SiO2 /(100)Si结构的Ge悬空键界面缺陷的钝化效率的影响
机译:au覆盖层对埋地CaF2 / si(111)界面价带偏移的影响。 (重新公布新的可用性信息)。