机译:单轴压缩应变对p沟道MOSFET动态负偏置温度不稳定性的影响
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机译:氮对p沟道MOSFET负偏置温度不稳定性的影响
机译:氟的掺入对P沟道MOSFET的负偏压温度不稳定性(NBTI)的影响
机译:观察沟槽门控n沟道MOSFET的高温反向偏置应力期间发生的寄生p沟道MOSFET的负偏置温度不稳定性
机译:单通道压缩应变下具有沟道的p沟道MOSFET的凹陷硅锗结参数优化研究。
机译:单轴和平面应变拉力下6个温度下来自9个批次的铝6061-T651的应力应变数据
机译:氮氧氮化硅栅极电介质中的氮工程对p-MOSFET负偏压温度不稳定性的影响:超快速I-DLIN技术研究