机译:氟的掺入对P沟道MOSFET的负偏压温度不稳定性(NBTI)的影响
Negative-bias-temperature-instability (NBTI); PMOSFETs; Thin gate oxide;
机译:氟的掺入对P沟道MOSFET的负偏压温度不稳定性(NBTI)的影响
机译:氟掺入对P沟道MOSFET负偏压不稳定性(NBTI)的影响
机译:氟掺入对P沟道MOSFET负偏压不稳定性(NBTI)的影响
机译:用于P沟道MOSFET的负偏压不稳定性的过程和掺杂物种依赖性
机译:具有氧氮化物栅极电介质的p + -poly PMOSFET中的热孔退化和负偏压温度不稳定性(NBTI)增强。
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:DC - AC NBTI应力 - P沟道平面散装和FDSOI MOSFET和FINFET的恢复时间动力学建模