机译:氟的掺入对P沟道MOSFET的负偏压温度不稳定性(NBTI)的影响
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机译:用于P沟道MOSFET的负偏压不稳定性的过程和掺杂物种依赖性
机译:单通道压缩应变下具有沟道的p沟道MOSFET的凹陷硅锗结参数优化研究。
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:p-MOSFET中负偏压温度不稳定性的产生和恢复的物理机制和栅极绝缘体材料依赖性