机译:氮对p沟道MOSFET负偏置温度不稳定性的影响
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机译:氟的掺入对P沟道MOSFET的负偏压温度不稳定性(NBTI)的影响
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机译:观察沟槽门控n沟道MOSFET的高温反向偏置应力期间发生的寄生p沟道MOSFET的负偏置温度不稳定性
机译:二氧化硅和基于等离子体氮化的氧化物的pMOSFET的负偏置温度不稳定性所涉及的原子尺度缺陷。
机译:光激励对insnzno厚度变化薄膜晶体管漏电流和负偏置不稳定性的影响
机译:氮氧氮化硅栅极电介质中的氮工程对p-MOSFET负偏压温度不稳定性的影响:超快速I-DLIN技术研究