...
首页> 外文期刊>Физика и техника полупроводников >ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ В СВЕТОДИОДНОЙ ГЕТЕРОСТРУКТУРЕ N-GASB/N-INGAASSB/P-ALGAASSB С ВЫСОКИМ ПОТЕНЦИАЛЬНЫМ БАРЬЕРОМ
【24h】

ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ В СВЕТОДИОДНОЙ ГЕТЕРОСТРУКТУРЕ N-GASB/N-INGAASSB/P-ALGAASSB С ВЫСОКИМ ПОТЕНЦИАЛЬНЫМ БАРЬЕРОМ

机译:N-GASB / N-INGAASSB / P-ALGAASSB LED异质结构中的高温发光具有较高的势垒

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Исследованы электролюминесцентные свойства гетероструктуры n-GaSb-InGaAsSb/p-AlGaAsSb с высоким потенциальным барьером в зоне проводимости на гетерогранице II типа n-GaSb-InGaAsSb (Delta Ec=0.79 эВ). В спектре электролюминесценции наблюдалось две полосы с энергиями максимумов 0.28 и 0.64 эВ при 300 K, связанные с излучательной рекомбинацией в n-InGaAsSb и n-GaSb соответственно. Во всем исследованном диапазоне температур T=290-480 K в активной области n-InGaAsSb вследствие ударной ионизации горячими электронами, разогретыми за счет скачка потенциала в зоне проводимости, происходит образование дополнительных электронно-дырочных пар, дающих вклад в излучательную рекомбинацию, что приводит к нелинейному возрастанию интенсивности электролюминесценции и выходной оптической мощности с увеличением тока накачки. При нагреве в интервале температур T=290-345 K наблюдалось сверхлинейное, а при T<345 K линейное увеличение мощности излучения длинноволновой полосы. В данной работе впервые сообщается об увеличении мощности излучения светодиодной гетероструктуры с ростом температуры. Показано, что рост мощности излучения при увеличении температуры обусловлен уменьшением пороговой энергии ударной ионизации вследствие сужения запрещенной зоны активной области.
机译:研究了在n-GaSb / n-InGaAsSb II型异质界面(Delta Ec = 0.79 eV)的导带中具有高势垒的n-GaSb / n-InGaAsSb / p-AlGaAsSb异质结构的电致发光特性。电致发光光谱显示出在300 K时最大能量为0.28和0.64 eV的两个谱带,分别与n-InGaAsSb和n-GaSb中的辐射复合相关。在n-InGaAsSb的整个研究温度范围T = 290-480 K中,由于导带中的电势跃变而加热的热电子对碰撞产生电离,从而形成碰撞电子,从而形成了额外的电子-空穴对,从而导致辐射复合,从而导致非线性电致发光强度和光输出功率随泵浦电流的增加而增加。在T = 290-345 K的温度范围内加热时,观察到超线性增加,在T <345 K处,观察到长波长带的辐射功率呈线性增加。在本文中,首次报道了LED异质结构的辐射功率随温度升高而增加。结果表明,辐射功率随温度升高而增加,是由于有源区带隙变窄导致碰撞电离的阈值能量降低所致。

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号