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The effect of device geometry and crystal orientation on the stress-dependent offset voltage of 3C-SiC(100) four terminal devices (vol 3, pg 8804, 2015)

机译:器件几何形状和晶体取向对3C-SiC(100)四个终端器件应力相关偏移电压的影响(第3卷,第8804页,2015年)

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