可靠性及例行试验属于《中国图书分类法》中的五级类目,该分类相关的期刊文献有773篇,会议文献有380篇,学位文献有459篇等,可靠性及例行试验的主要作者有恩云飞、郝跃、曹洲,可靠性及例行试验的主要机构有中国电子科技集团公司第五十八研究所、桂林电子科技大学、西安电子科技大学等。
统计的文献类型来源于 期刊论文、 学位论文、 会议论文
1.[期刊]
摘要: 为了实现集成电路内部电信号波形的非接触探测,设计了基于共光路干涉仪的探测光路,同时利用锁相放大技术噪声抑制能力强,灵敏度高的特点,提出了基于锁相放大的信号处理...
2.[期刊]
摘要: 随着航空航天事业高速发展,抗辐射元器件的使用需求日益旺盛,作为抗辐射性能评估方法之一的单粒子翻转试验愈发体现出重要性。针对单粒子翻转试验条件的设定与优化,设计...
3.[期刊]
H_(2)和H_(2)O对双极器件抗辐射性能的影响规律和机制
摘要: 为了深入研究H_(2)和H_(2)O进入氧化层后对双极器件辐射效应的影响机制,以栅控双极晶体管为研究载体,分别开展了不同浓度H_(2)浸泡中的辐照试验和温湿度...
4.[期刊]
摘要: 元器件种类不断增多,同系列产品也日益完善。一般来说同系列产品共用手册,但手册内容有限,不便于设计师选用和更换。为此,开展对四款5407系列六缓冲器的测试分析,...
5.[期刊]
摘要: 随着国产LDO器件在装备中的大量使用,为保障元器件应用可靠性,需针对LDO输出噪声指标测试方法进行研究。结合实际验证工作,基于TCAD仿真,分析LDO器件噪声...
6.[期刊]
摘要: 详细介绍了封装结构焊点在热循环和随机振动载荷下的失效机理以及相关的研究方法,总结了几类典型的疲劳寿命预测模型;分析了焊点在热振耦合条件下的理论方法和研究现状,...
7.[期刊]
摘要: 智能汽车的高集成化发展,使得组装焊点尺寸减小,对焊点抗电迁移服役可靠性的要求提高。目前用于汽车电子的三元系焊料SnAgCu无法满足日益严苛的服役环境,而多元合...
8.[期刊]
摘要: 为进一步挖掘EEPROM器件的应用潜力,以微芯片93C56B为例,设计一套针对存储数据耐久性的试验方法。从具体工艺需求入手,探讨万次擦写对存储器的耐久性与产品...
9.[期刊]
摘要: 随着GaN功率器件的发展和其应用场景的多元化,GaN器件常在高电压和高温状态下工作,为确保设备正常工作并提高其工作寿命,对GaN功率器件异常工作状态下的可靠性...
10.[期刊]
摘要: 随着加固计算机对可靠性的要求越来越高,如何减少加固计算机故障,提高设备完好性,成为电子设备研发过程中的重点和难点。在现有机械构件强度评估理论的基础上,针对加固...
11.[期刊]
摘要: 高密度CMOS工艺SRAM对单粒子锁定极端敏感的特性使其在空间应用时必须采取相应的防护策略。对于抗辐照能力较弱的CTOS,电路级防护成为提高系统可靠性的一项重...
12.[期刊]
摘要: 开展65 nm高速大容量静态随机存取存储器(SRAM)大气中子单粒子效应特性及试验评价技术研究,基于4 300 m高海拔地区大面积器件阵列实时测量试验,突破效...
13.[期刊]
摘要: 为有效探究作物的品质与其生长环境的关系,并对温室内的作物生长环境进行精准监测与管理,文中设计了一种基于物联网、嵌入式技术、LoRa技术、可视化技术的温室环境测...
14.[期刊]
摘要: 陶封隔离器由于引线间距过小,需采用灌胶的方法来加强其绝缘性能,使其隔离电压从而满足安全需求。灌封后因去胶困难,键合试验无法进行。针对上述问题,文中以GL320...
15.[期刊]
摘要: 目前市场上已形成以飞腾、龙芯、申威等为代表的国产处理器,但是对其的可靠性研究还比较少。为研究国产处理器的可靠性水平,文中以FT1500A/16处理器为例,针对...
16.[期刊]
摘要: 针对模拟电路故障诊断中故障信息的多特征、高噪声以及故障诊断时间较长的问题,提出了一种基于H-DELM的模拟电路故障诊断模型。该模型的架构单元为双随机隐藏层的深...
17.[期刊]
摘要: 采用活性金属钎焊技术制备Cu/Si_(3)N_(4)/Cu陶瓷覆铜板,在-65~150℃温度条件下经历500次温度循环后,基板无裂纹、翘起、起皮等缺陷。对基板...
18.[期刊]
摘要: 随着集成电胳制程趋于极限,登纳德缩放定律逐步失效,芯片的功率密度逐渐提升,尤其是在5G、物联网以及高性能计算快速发展的驱动下,单芯片面积也在增大,热耗散问题日...
19.[期刊]
摘要: 针对芯片生产链长、安全性差、可靠性低,导致硬件木马防不胜防的问题,该文提出一种针对旁路信号分析的木马检测方法。首先采集不同电压下电路的延时信号,通过线性判别分...
20.[期刊]
摘要: 针对系统可靠性分析问题,给出一种多态故障树自动建树的方法,对系统结构及部件模型进行了规范化描述。基于系统基本元素,通过理论分析,提出一种新的故障表征方法,将不...
1.[会议]
摘要: 同时多线程(SMT)处理器中,多个线程的指令同时处于流水线的各个阶段,共享处理器的资源,提高处理的资源利用率和指令吞吐率.然而,线程之间的资源竞争制约了处理器...
2.[会议]
摘要: 随着全球化的到来,集成电路的设计与生产越来越容易被植入额外的逻辑,称这种额外的逻辑为硬件木马.本文提出一种基于区域划分的方式来显化被植入的硬件木马的功耗,从而...
3.[会议]
摘要: 硬件木马是一种隐蔽性很强的信息攻击技术.随着硬件木马被关注度的提高,硬件木马相关检测技术得到飞速发展,使得在集成电路中植入高隐蔽性木马变得越来越难.设计以AE...
4.[会议]
摘要: 针对固定极性RM(Fixed-Polarity Reed-Muller,FPRM)电路面积优化问题,提出一种基于参数自适应布谷鸟算法的FPRM电路面积优化方案...
5.[会议]
摘要: 本文针对外来杂质及导热绝缘层缺陷所引起的铝基板耐压失效问题,通过预制金属杂质、铝板毛刺、介质层气泡、填料结团这四种介质层缺陷的铝基板,并对这四种现象进行耐高压...
6.[会议]
摘要: 针对双列直插式封装8管脚和四方扁平式封装144管脚两种封装形式进行了湿热可靠性及失效模式分析,对两种封装体进行了一系列的可靠性实验,通过切片分析,发现四方扁平...
7.[会议]
TMS320LF2407 APGEA动态老炼设计实现方法研究
摘要: 近年来,随着DSP在军工和航天领域的应用,用户对DSP器件的可靠性要求也越来越高.在集成电路的可靠性筛选试验中,动态老炼试验是最重要的试验之一,DSP动态老炼...
8.[会议]
摘要: 由于进口集成电路停产及采购困难,假冒翻新集成电路流入了高可靠性应用领域,严重影响产品质量可靠性和安全性能.文章结合筛选和DPA过程发现的假冒翻新集成电路实例,...
9.[会议]
摘要: 纳米级系统芯片(System on Chip,SoC)集成度高、性能优越、功耗低以及体积小,非常适合航天器的发展需求,然而空间辐射环境对系统芯片的可靠性造成了...
10.[会议]
摘要: MEMS(Micro-electro-mechanical systems,微电子机械系统)器件具有微型化、低成本、集成化、功耗低、性能优异等特点,在引信等武...
11.[会议]
摘要: 本文以军用印制板组装件在型号产品应用中出现耐环境应力性能的案例为基础,针对问题出现的原因进行了总结、提炼,针对不同应力应用环境,从印制板基材、元器件选用,外形...
12.[会议]
摘要: 微系统起源于MEMS,与微电子、微光学以及纳米等基础技术高度融合,以微型化和微观效应为起点,结合多学科的高度融合,在广泛的军事和应用领域、行业、学科带来前所未...
13.[会议]
摘要: 本文利用脉冲激光单粒子效应模拟试验装置对三星公司的SRAM K6R4016V1D进行了单粒子闩锁效应试验研究.试验测得了此器件的单粒子闩锁效应脉冲激光能量阈值...
14.[会议]
摘要: 通过测试基于静态随机存储器(SRAM)的现场可编程门阵列(FPGA)芯片的单粒子效应,研究脉冲激光的试验方法,评估脉冲激光试验单粒子效应的有效性.研究表明,激...
15.[会议]
摘要: 引进武器装备的国产化一直是我军装备研究的重点,本文通过对某进口防空导弹武器系统中的五类集成电路和对应的国产集成电路进行了方波注入电磁损伤效应的研究,得到了进口...
16.[会议]
摘要: 数字系统设计和信号完整性工程师面对25Gbps信号传输挑战时,必须重视串扰这个关键问题.本文先介绍了串扰产生的原因,然后结合一块25Gbps电背板分析串扰对2...
17.[会议]
摘要: 本文通过试验方法来探讨电解电容在不同温度条件下其容量、漏电流、损耗角正切值等参数的变化情况,通过试验验证和对其寿命衰减曲线的研究分析,得到了一种加速电解电容寿...
18.[会议]
摘要: 温度是影响电子产品可靠性的重要环境因素.温度循环试验是环境试验中最常用、最有效的试验之一,对评价产品的可靠性和进行质量监控有着重大意义.通过对温度循环试验的温...
19.[会议]
摘要: SM2算法是国家密码管理局公布的基于椭圆曲线的公钥密码算法标准,其主要内容包括两点.一是基于椭圆曲线的公钥加密方案、数字签名方法和密钥协商方案等椭圆曲线密码协...
20.[会议]
摘要: 粒子碰撞噪声检测仪是微电子元器件可靠性筛选的重要设备,用于检测封装器件内的多余粒子.本文在分析粒子碰撞噪声检测仪测试原理的基础上,给出了校准方法.并结合校准实...
1.[学位]
摘要: 随着当代PCB电路的迅速发展,电路复杂度不断地提高,对PCB电路运行的可靠性提出了更高的要求。PCB电路的故障预测与诊断引起国内外学者广泛关注。PCB电路是一...
2.[学位]
摘要: 随着CMOS工艺进入深亚微米级别,集成电路的可靠性面临着老化效应的严峻考验,老化效应严重地影响着集成电路的生命周期。在军事、航空航天等对电路可靠性要求较高的行...
3.[学位]
摘要: 结合3D堆叠和片上网络的技术优点,三维片上网络被认为是未来多核时代片上通信的主流架构。层间使用TSV互连,相较于传统的二维平面架构,具有更低的网络通信延迟、更...
4.[学位]
摘要: 伴随着半导体制造工艺技术的不断发展,纳米级工艺尺寸持续缩小,CMOS集成电路的可靠性问题已经成为整个工艺设计最大的一项挑战。尤其在65nm及以下CMOS工艺,...
5.[学位]
摘要: 随着集成电路的工艺水平进入纳米级时代,负偏置温度不稳定(Negative Bias Temperature Instability,NBTI)效应引起的老化效...
6.[学位]
摘要: 静电放电现象是一种静电电位不同的物体在直接接触或靠近时引发的电荷转移现象,该现象在放电点附近会产生大强度和高频率的电磁场,该电磁场会通过耦合辐射进入被测设备,...
7.[学位]
摘要: 在微电子技术中,三维集成电路是集成电路制造中的一种新工艺。它通过在垂直方向上堆叠晶片,并使用一种叫做硅通孔的技术让不同层的晶片能够实现信号垂直互联,使得堆叠后...
8.[学位]
基于UVM的高清数字多媒体接口芯片的HDCP模块验证平台设计与研究
摘要: 在集成电路规模日趋复杂的今天,验证业已成为IC芯片设计的重要组成部分。应用先进的验证方法学来指导验证平台的搭建,可以实现更加高效的验证,同时提供可移植复用的验...
9.[学位]
摘要: 当代集成电路芯片设计中,逻辑设计的规模和繁杂程度呈现快速增长的趋势,设计与验证实现的困难度随之大幅提升,为了确保芯片逻辑设计功能的正确性,需投入比以往更多的人...
10.[学位]
摘要: 遵循着摩尔定律的指导,半导体行业发展日新月异。IP复用技术使得片上集成功能迅速增多,以SoC为代表的片上结构复杂度不断增加,给数字IC前端的设计和验证上带来巨...
11.[学位]
摘要: 集成电路的迅速发展使得处理器和内存的访问速度越来越快,内存的速度虽然也在增长,但是和处理器访问速度相比还远远不及。正是由于处理器与存储器访问的速度之间存在较大...
12.[学位]
摘要: 随着集成电路的高速发展,芯片设计的规模越来越大,功能越来越复杂,导致在电路设计阶段出现缺陷的可能性越来越高,这就对验证提出了更高的要求。此外随着芯片的应用领域...
13.[学位]
摘要: 随着计算机图形图像技术的发展,人们对图形处理器的性能要求也越来越高。因此,学术界和企业界非常关注高性能图形处理器设计,使得图形处理硬件设计技术得到了飞速发展。...
14.[学位]
摘要: 数字集成电路的迅速发展,设计的规模日益增大,产品更加的复杂,设计周期不断的减少,使得验证工作的难度不断地增加。同时,验证工作消耗的时间在设计周期中占据较大的比...
15.[学位]
摘要: 蓝牙作为一种短距离无线通信技术已广泛应用于各类移动通信设备,蓝牙技术规范也从经典蓝牙(基本速率和增强数据速率)发展到现在的低功耗蓝牙,低功耗蓝牙具有极低的运行...
16.[学位]
摘要: 随着我国经济的持续快速发展与环境问题的日益严峻,能量处理的管理需求随之增加。在对电压电流的运用进行有效控制方面,功率器件起到了至关重要的作用。而功率MOSFE...
17.[学位]
摘要: 传统SoC设计中,基于总线的IP核互连架构面临着诸多性能限制,而片上网络(Network On Chip,NoC)作为一种新型的片上通信方案,能有效解决大规模...