机译:5MHz,3.6mW,1.4V SRAM,具有非增强型垂直双极位线接触式存储单元
BiCMOS memory circuits; SRAM chips; integrated circuit noise; 1.4 to 4 V; 256 Kbit; 60 ns; SRAM; nonboosted bit-line memory cell; static RAM; static noise margin; vertical PNP transistors; vertical bipolar bit-line contact memory cell;
机译:5MHz,3.6mW,1.4V SRAM,具有非增强型垂直双极性位线接触式存储单元
机译:基于垂直λ双极晶体管的新型SRAM存储单元的分析与设计
机译:使用存储单元中反馈延迟的统计分析对硬化的CMOS SRAM进行SEU表征
机译:具有非增强型垂直双极性位线接触式存储单元的3.6 mW 1.4 V SRAM
机译:设计节能且坚固的sram单元和片上高速缓存。
机译:体外低氧条件下三种不同菌株结核分枝杆菌的蛋白质组学分析及低氧相关抗原的特异性记忆T细胞在健康家庭接触者中的评估
机译:45nm技术在存储单元控制电路存在下SRAM细胞的性能比较
机译:sEU(单事件翻转)容忍存储器单元源自sRam中的sEU机制的基础研究(静态随机存取存储器)