机译:用于MOS栅极应用的NH_3-RTP生长的超薄氧氮化物层
Mattson Thermal Products GmbH, Daimlerstr. 10, D 89160 Dornstadt, Germany;
Ultra-thin oxynitrides; SiO_2; RTP; Post nitridation annealing; Leakage current; Threshold voltage;
机译:基于氧化镧/氧化硅的栅极堆叠性能增强由于CMOS应用的超氧氮化物界面引起的增强
机译:使用超薄氧氮化膜作为隧穿层的玻璃上非易失性存储器件的氧化物-氮化物-氮氧化物叠层结构的存储特性
机译:RTP生长的氮氧化物层应对门挑战
机译:适用于65 nm通用CMOS应用的脉冲RF DPN超薄氧氮化物栅极电介质
机译:使用等离子体纳米结构的超薄共轭聚合物层中的光管理
机译:分层中的介电性能和离子传输气相硫化法生长的MoS2的潜在应用在纳米电子领域
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