机译:用于解释2DEG迁移率相对于N极性和Ga极性AlGaN-GaN异质结构中电荷密度的行为的模型
Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Santa Barbara, California 93106, USA;
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机译:基于2DEG电荷密度的漏极电流模型,用于各种Al和依赖于分数迁移率的纳米级AlInGaN / AlN / GaN HEMT器件
机译:勘误表:“ N极和Ga极GaN / AlN / GaN异质结构中的不对称界面突变” [Appl。物理来吧101,091601(2012)]
机译:N极性和Ga极性GaN / AlN / GaN异质结构中的不对称界面突变
机译:LP-MOVPE生长的AlGaN-GaN结构中的2DEG迁移率
机译:气体中带电纳米滴的离子迁移率质谱测量和电迁移率建模:电迁移率,大小和电荷之间的关系,以及离子诱导的偶极相互作用的影响。
机译:具有可调能带排列和界面电荷转移行为的二维垂直异质结构的直接气相生长
机译:用于测量2DEG电荷密度和带结构的非接触式方法 高电子迁移率晶体管结构不需要晶体管 制造