机译:在谐波载荷下,在电子封装下使用电子封装的无铅焊点(SN-0.5Cu-3Bi-1Ag)疲劳寿命的实验和有限元分析
Department of Mechanical Engineering School of Engineering Cochin University of Science and Technology Kochi Kerala-682022 India;
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PCB; lead free solder joint; FEA; PBGA; S-N curve;
机译:一种混合有限元建模:人工神经网络方法,用于预测晶圆级芯片尺度包装中的焊接关节疲劳寿命
机译:Sn-Ag-Cu球栅阵列封装的基于有限元的焊点疲劳寿命预测方法
机译:电子封装用SnAgCu(Zn,Co,Fe)无铅焊点的有限元分析
机译:PBGA焊点热疲劳寿命的有限元分析,并通过实验数据进行模型验证
机译:粘塑性有限元模拟,以预测不同闪存芯片堆叠架构的焊点疲劳寿命。
机译:平面外载荷作用下C / C复合节点结构破坏机理的试验与有限元研究
机译:通过有限元分析预测无铅BGA焊点的热疲劳寿命
机译:疲劳寿命预测的有限元网格生成及焊点分析